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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
Standard in brief
Scope of Application：
本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
Basic information
Standard No：GB/T 40300-2021
Standard Name：微束分析 分析电子显微学 术语
English Name：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
Standard Status：现行
Release Date：2021-08-20
Effective Date：2022-03-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.40
CCS Number：G04
Related Standards
Adopted Standards：ISO 15932:2013
Adopted Standard Name：《微束分析 分析电子显微学 术语》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：36
Number of words：66 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2021-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：40300
Drafter：柳得橹、汤斌兵、贺连龙
Drafting Organization：北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
