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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
Standard in brief
Scope of Application：
本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。
Basic information
Standard No：GB/T 4937.41-2026
Standard Name：半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法
English Name：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-02-27
Effective Date：2026-09-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Referenced Standards：IEC 60749-6,IEC 60749-23
Adopted Standards：IEC 60749-41:2020
Adopted Standard Name：《半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器的标准可靠性试验方法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：31 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-02-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：4937.41
Drafter：常艳昭、宋国栋、郭晓宇、解维坤、张凯虹、王建超、陈诚、韩先虎、顾玉娣、季伟伟、冯佳、万永康、虞勇坚、吕栋、路金朋、印琴、张猛华、奚留华、杨霄垒、吴晨烨、李秋枫、秦虎、郝香池、鹿祥宾、张肖、颜佳辉、杨少华、李锟、席善斌、张欢、戴志坚、张颖、陈鑫、吴大畏、廉鹏飞、付仲满、李刚、徐中国、任秋萍、鲁鹏棋、鲍斌、赖鼐、左仲元、黄如金
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院、河北北芯半导体科技有限公司、电子科技大学、南京航空航天大学、得一微电子股份有限公司、华东师范大学、中国电子科技集团公司第三十二研究所、上海贝岭股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、浙江驰拓科技有限公司、深圳市源微创新实业有限公司、珠海妙存科技有限公司、中绍宣标准化服务(山东)有限公司、深圳市迈迪杰电子科技有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
