This standard is the Chinese version electronic standard. After you successfully purchase, we will send the electronic version of this standard to your email address. If you have any question, please contact email: ChineseStandardsLibraryS001@gmail.com.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了空腔器件内存在自由粒子的检测方法，如陶瓷碎片、残余键合引线或焊料球（金属颗粒)。
本试验是非破坏性试验。
Basic information
Standard No：GB/T 4937.16-2025
Standard Name：半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测(PIND)
English Name：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
Standard Status：现行
Release Date：2025-10-31
Effective Date：2026-05-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Adopted Standards：IEC 60749-16:2003
Adopted Standard Name：《半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：15 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：4937.16
Drafter：席善斌、裴选、张嘉声、彭浩、孙博、辛长林、何祥旺、许志钦、王英程、裴晓波、邱钰、张魁、宋玉玺、武立会、刘玮
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第十三研究所、广州翔声智能科技有限公司、珠海市精实测控技术有限公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、装备发展部军事代表局驻武汉地区军代表室
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
