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Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 42848-2023
Standard Name：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
English Name：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
Standard Status：现行
Release Date：2023-08-06
Effective Date：2023-12-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 17574-1998
Publication Information
Number of pages：36
Number of words：62 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42848
Drafter：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
Drafting Organization：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
