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Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像，获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。
本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒，具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。
Basic information
Standard No：GB/T 45114-2024
Standard Name：纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
English Name：Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
Standard Status：现行
Release Date：2024-12-31
Effective Date：2025-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：07.180
CCS Number：G30
Related Standards
Referenced Standards：ISO 9276-3,ISO 9276-6,ISO 29301
Adopted Standards：ISO 21363:2020
Adopted Standard Name：《纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：76
Number of words：127 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2024-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：45114
Drafter：李旭、任玲玲、张毅、王宇婷、黄鹭、娄花芬、莫永达、曹丛、刘伟丽、李适、马拥军、王俪颖、郭新秋、刘俊杰、赵东艳、梁霄鹏、雷前、高思田、施玉书、崔磊、王亚磊
Drafting Organization：中国计量科学研究院、测试狗(成都)实验检测有限公司、河南科技大学、中铝科学技术研究院有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、北京智芯微电子科技有限公司、山东省计量科学研究院、清华大学深圳国际研究生院、上海交通大学、中南大学、西南科技大学、南京市计量监督检测院
Management Organization：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
Proposing Department：中国科学院
