This standard is the Chinese version electronic standard. After you successfully purchase, we will send the electronic version of this standard to your email address. If you have any question, please contact email: ChineseStandardsLibraryS001@gmail.com.
Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconduct-or devices for space applications
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了开展宇航用半导体器件（以下简称“器件”）在轨单粒子翻转率预计的方法，包括原理、流程、空间带电粒子LET 谱和质子能谱计算、辐照试验数据处理分析和单粒子翻转率预计等。本文件适用于空间自然辐射环境中的质子和重离子引发器件单粒子翻转率的预计。单粒子功能中断等其他类型单粒子事件率预计参考使用。本文件不适用于高能电子引发的单粒子翻转率的预计。
Basic information
Standard No：GB/T 44181-2024
Standard Name：空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法
English Name：Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconduct-or devices for space applications
Standard Status：现行
Release Date：2024-07-24
Effective Date：2024-07-24
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：49.020
CCS Number：V06
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 32452,GB/T 41206-2021,GB/T 44001
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-07-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：44181
Drafter：孙毅、张洪伟、梅博、莫日根、于庆奎、魏志超、曹爽、唐民、朱恒静、黄金英、梁斌、李昌宏、韩建伟、王天琦、马英起、郑宏超
Drafting Organization：中国空间技术研究院、国防科技大学、哈尔滨工业大学、北京微电子技术研究所、中国科学院国家空间科学中心
Management Organization：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
Proposing Department：中国科学院
