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Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination
Standard in brief
Scope of Application：
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
Basic information
Standard No：GB/T 43035-2023
Standard Name：半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
English Name：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2023-09-07
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L57
Related Standards
Adopted Standards：IEC 60748-20-1:1994
Adopted Standard Name：《半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：46 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43035
Drafter：王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
