This standard is the Chinese version electronic standard. After you successfully purchase, we will send the electronic version of this standard to your email address. If you have any question, please contact email: ChineseStandardsLibraryS001@gmail.com.
Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Standard in brief
Scope of Application：
本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。
本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
Basic information
Standard No：GB/Z 107-2025
Standard Name：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
English Name：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Standard Status：现行
Release Date：2025-12-03
Effective Date：1800-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Adopted Standards：IEC TR 63133:2017
Adopted Standard Name：《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：20 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2025-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：107
Drafter：万永康、何静、虞勇坚、季伟伟、宋国栋、帅喆、凌勇、印琴、张凯虹、李锟、贺致远、李德建、李飞、常婷婷、苏卡
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
