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Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Procedures for identifying,estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中，由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。
本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤，导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较，也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。
Basic information
Standard No：GB/T 45772-2025
Standard Name：表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
English Name：Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Procedures for identifying,estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
Standard Status：现行
Release Date：2025-06-30
Effective Date：2026-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.40
CCS Number：G04
Related Standards
Adopted Standards：ISO 18554:2016
Adopted Standard Name：《表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：31 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-06-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：45772
Drafter：姚文清、段建霞、王舰、杨立平、高星星、高飞、孙敬方、王岩华、徐同广、刘芬、刘浪、华瑞茂、吴正龙、伏晓国
Drafting Organization：新疆大学、清华大学、大连大学、南京信息工程大学、南京大学、中国科学院化学研究所、北京师范大学、中国工程物理研究院材料研究所
Management Organization：全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
Proposing Department：全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
