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Electrostatic discharge sensitivity testing—Transmission line pulse(TLP)—Component level
Standard in brief
Scope of Application：
本文件定义了一种传输线脉冲（TLP）试验方法，用于评估被测半导体器件的电压电流响应，并考量静电放电（ESD）人体模型（HBM）防护的设计参数。本文件建立了一种与TLP有关的试验和报告信息的方法。本文件的范围和重点涉及半导体器件的TLP试验技术。本文件不是HBM试验标准（例如IEC 6074926）的替代方法。本文件的目的是建立TLP方法的指南，以便提取半导体器件的HBM ESD参数。本文件提供了使用TLP正确提取HBM ESD参数的标准测量和程序。
Basic information
Standard No：GB/T 44635-2024
Standard Name：静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级
English Name：Electrostatic discharge sensitivity testing—Transmission line pulse(TLP)—Component level
Standard Status：现行
Release Date：2024-09-29
Effective Date：2024-09-29
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080
CCS Number：L56
Related Standards
Adopted Standards：IEC 62615:2010
Adopted Standard Name：《静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：34 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：44635
Drafter：胡小军、崔强、肖庆中、方文啸、吴建飞、乔彦彬、陈奕旭、胡光亮、汤海波、付君、周镒、李楠、杨红波、卞建勇、刘星汛、刘挺、李燕、李金龙、周雷、鞠文静、熊璞、程江河
Drafting Organization：苏州泰思特电子科技有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、上海雷卯电子科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、中国信息通信研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、东莞职业技术学院、北京无线电计量测试研究所、重庆邮电大学、中国计量大学、上海市计量测试技术研究院、江苏省计量科学研究院、国网电力科学研究院有限公司、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、厦门市产品质量监督检验院
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
