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Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了半导体集成电路射频发射器和接收器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本文件适用于具有接收功能、发射功能、收发一体功能的一次变频射频发射器/接收器，其他类型的发射器和接收器可参考使用。
Basic information
Standard No：GB/T 44924-2024
Standard Name：半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
English Name：Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
Standard Status：现行
Release Date：2024-12-31
Effective Date：2025-04-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 4937.1-2006,GB/T 9178
Publication Information
Number of pages：68
Number of words：117 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：44924
Drafter：苏良勇、王露、唐景磊、阳润、戚园、刘丹、许娟、苏巧、陈翔、刘晓政、范超、高青
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第二十四研究所、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第十四研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
