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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了配备电子能量损失谱仪(简称“能损谱仪”,EELS)的透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)中电子能量损失谱(简称“能损谱”)能量分辨率的测定程序。
本文件适用于内置型和后置型的EELS,包括采用并行检测系统和串行检测系统的谱仪。
Basic information
Standard No：GB/T 46223-2025
Standard Name：微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
English Name：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
Standard Status：现行
Release Date：2025-08-29
Effective Date：2026-03-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.50
CCS Number：N33
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 22571-2017,GB/T 40300-2021
Adopted Standards：ISO 23420:2021
Adopted Standard Name：《微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：36
Number of words：45 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：46223
Drafter：洪崧、王岩华
Drafting Organization：北京化工大学、中国科学院化学研究所
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
