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Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了聚焦离子束法制备透射电镜试样的仪器设备、环境与样品要求、试样制备和试验记录。
本文件适用于金属材料，半导体、矿物等无机非金属材料及高分子材料等固态材料的透射电镜试样制备。
本文件适用于各种类型的聚焦离子束场发射扫描电镜双束系统，单束系统和多束系统参照执行。
Basic information
Standard No：GB/T 45459-2025
Standard Name：微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法
English Name：Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens
Standard Status：现行
Release Date：2025-03-28
Effective Date：2025-10-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.40
CCS Number：G04
Related Standards
Referenced Standards：JY/T 0583-2020
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：26 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-03-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：45459
Drafter：乔祎、徐宗伟、邓昱、孟杨、王英、王荣明、邹永纯、尤力、朱玉辰
Drafting Organization：北京科技大学、天津大学、南京大学、首钢集团有限公司、上海交通大学、哈尔滨工业大学
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
