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Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 42838-2023
Standard Name：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
English Name：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
Standard Status：现行
Release Date：2023-08-06
Effective Date：2023-12-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 17574-1998
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：27 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42838
Drafter：尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
