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Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了非本征半导体单晶材料霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。
Basic information
Standard No：GB/T 4326-2025
Standard Name：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
English Name：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
Standard Status：现行
Release Date：1984-04-12
Effective Date：2026-05-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：77.040
CCS Number：H17
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 14264
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：22 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：4326
Drafter：林泉、王博、马远飞、李素青、王阳、刘国龙、周铁军、王宇、黄文文、王金灵、刘京明、韩庆辉、赵中阳、胡世鹏、莫杰、朱晨阳
Drafting Organization：有研国晶辉新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、中国科学院半导体研究所、晶澳太阳能科技股份有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司、深圳大学
Management Organization：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
Proposing Department：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
