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Semiconductor devices—Part 14-4:Semiconductor sensors—Semiconductor accelerometers
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了加速度计的特性、基本额定值，描述了相应的测量方法。
本文件适用于所有类型的半导体加速度计产品。
本文件不仅适用于典型内置电路的半导体加速度计，也适用于外置电路的半导体加速度计。
本文件不违反（或妨碍）客户和供应商之间以新业务模型或业务数据签订的商业协议。
Basic information
Standard No：GB/T 20521.4-2025
Standard Name：半导体器件 第14-4部分：半导体传感器 半导体加速度计
English Name：Semiconductor devices—Part 14-4:Semiconductor sensors—Semiconductor accelerometers
Standard Status：现行
Release Date：2025-12-31
Effective Date：2026-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Referenced Standards：ISO 5347(所有部分),ISO 5347-11:1993,ISO/IEC GUIDE 99-2007,IEC 60747-1:2006,IEC 60749(所有部分),IEC 60749-1,IEC 60749-5,IEC 60749-6,IEC 60749-10,IEC 60749-11,IEC 60749-12,IEC 60749-13,IEC 60749-25,IEC 61000-4(所有部分),IEC 61000-4-2:1995,IEC 61000-4-3: 2006,IEC 61000-4-4:2004
Adopted Standards：IEC 60747-14-4:2011
Adopted Standard Name：《半导体器件 分立器件 第14-4部分:半导体加速度计》
Publication Information
Number of pages：80
Number of words：140 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：20521.4
Drafter：曹立强、欧文、胡建、钱春华、李泽雍、邓登峰、帅喆、胡维、李佳、浦旭鸣、孙宏伟、李俊萍、王瑞娟
Drafting Organization：华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、国家集成电路封测产业链技术创新战略联盟、苏州明皜传感科技有限公司、杭州士兰微电子股份有限公司、中科芯集成电路有限公司、苏州敏芯微电子技术有限公司、江苏物联网研究发展中心、无锡市检验检测认证研究院
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中国人民共和国工业和信息化部
