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Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Standard in brief
Scope of Application：
本文件给出了用电子探针显微分析仪或者扫描电镜的波谱仪附件获得试样特定体积内（μm3尺度）的X射线谱进行元素鉴别和确认特定元素存在的方法。
Basic information
Standard No：GB/T 20725-2025
Standard Name：微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则
English Name：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Standard Status：现行
Release Date：2006-12-25
Effective Date：2025-10-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.99
CCS Number：G04
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 30705-2014
Adopted Standards：ISO 17470:2014
Adopted Standard Name：《微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：15 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-03-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：20725
Drafter：曾毅、李香庭、彭帆
Drafting Organization：中国科学院上海硅酸盐研究所
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
