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Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。
本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 46567.1-2025
Standard Name：智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性
English Name：Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics
Standard Status：现行
Release Date：2025-10-31
Effective Date：2025-10-31
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.99
CCS Number：L40
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：25 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：46567.1
Drafter：时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永祥。
Drafting Organization：之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会
Management Organization：全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)
Proposing Department：全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)
