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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。
Basic information
Standard No：GB/T 44937.4-2024
Standard Name：集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法
English Name：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method
Standard Status：现行
Release Date：2024-12-31
Effective Date：2024-12-31
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：IEC 61000-4-6,IEC 61967-1
Adopted Standards：IEC 61967-4:2021
Adopted Standard Name：《集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1 Ω/150 Ω直接耦合法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：40
Number of words：65 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2024-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：44937.4
Drafter：崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞、李彬鸿、王少启、谢玉章、胡小军、黄雪梅、邵鄂、李楠、周雷、杨红波、颜伟、周香、刘洋、陈勇志、张红丽
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
