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Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm~300μm范围内透过率的测量方法。
本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。
Basic information
Standard No：GB/T 46227-2025
Standard Name：半导体单晶材料透过率测试方法
English Name：Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials
Standard Status：现行
Release Date：2025-08-29
Effective Date：2026-03-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：77.040
CCS Number：H21
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 8170,GB/T 13962,GB/T 14264
Publication Information
Number of pages：12
Number of words：13 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：46227
Drafter：李静、何烜坤、李素青、许蓉、齐海涛、索开南、胡伟、王英明、齐兴旺、欧琳芳、郝文娟、孙雪峰、李明达、王阳、王银海、夏秋良、朱晓彤、张红岩、丁雄杰、佘宗静、匡子登、夏宁、沈益军、吴杰、边仿、孙毅、李欢欢
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、江苏第三代半导体研究院有限公司、松山湖材料实验室、新美光(苏州)半导体科技有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、安徽光智科技有限公司、天通银厦新材料有限公司、广东先导微电子科技有限公司、中电晶华(天津)半导体材料有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、南京盛鑫半导体材料有限公司、山东有研半导体材料有限公司、山东天岳先进科技股份有限公司、广东天域半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司、杭州镓仁半导体有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、甬江实验室微谱(浙江)技术服务有限公司、昆山海菲曼科技集团股份有限公司、河南中宜创芯发展有限公司
Management Organization：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
