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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。
Basic information
Standard No：GB/T 43610-2023
Standard Name：微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
English Name：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
Standard Status：现行
Release Date：2023-12-28
Effective Date：2024-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.50
CCS Number：N33
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 18907-2013,GB/T 27418-2017,GB/T 30703-2014
Adopted Standards：ISO 19214:2017
Adopted Standard Name：《微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：48 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43610
Drafter：权茂华、柳得橹
Drafting Organization：北京科技大学
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
