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Superconducting strip photon detector—Dark count rate
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了超导条带光子探测器（SSPD）的性能参数之一暗计数率（DCR或RD）的测量，以及随偏置电流（Ib）和工作温度（T）变化关系的暗计数率的测试方法。界定了暗计数率相关的术语、定义、符号。
本文件适用于各种材料和结构的超导条带光子探测器的暗计数测量。
Basic information
Standard No：GB/T 42747-2023
Standard Name：超导条带光子探测器 暗计数率
English Name：Superconducting strip photon detector—Dark count rate
Standard Status：现行
Release Date：2023-05-23
Effective Date：2023-12-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：29.050
CCS Number：L15
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 2900.100-2017
Adopted Standards：IEC 61788-22-3:2022
Adopted Standard Name：《超导电性 第22-3部分:超导条带光子探测器 暗计数率》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：39 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2023-05-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42747
Drafter：杨晓燕、尤立星、黄佳、张成俊、郑东宁、张蜡宝、胡小龙
Drafting Organization：中国科学院上海微系统与信息技术研究所、赋同量子科技(浙江)有限公司、中国科学院物理研究所、南京大学、天津大学
Management Organization：全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265)
Proposing Department：中国科学院
