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Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary
Standard in brief
Scope of Application：
本文件界定了扫描电子显微术(SEM)在实际应用中使用的术语。包括基础术语和按不同技术内容分类的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本文件适用于所有有关SEM实际应用中的标准化文件。另外,本文件的某些术语,也适用于相关领域的文件[例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等]。
Basic information
Standard No：GB/T 23414-2026
Standard Name：微束分析 扫描电子显微术 术语
English Name：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary
Standard Status：现行
Release Date：2009-04-01
Effective Date：2026-08-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：37.020;01.040.37
CCS Number：N33
Related Standards
Adopted Standards：ISO 22493:2014
Adopted Standard Name：《微束分析 扫描电子显微术 术语》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：36
Number of words：58 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-01-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：23414
Drafter：李香庭、曾毅
Drafting Organization：中国科学院上海硅酸盐研究所
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
