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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
Basic information
Standard No：GB/T 43088-2023
Standard Name：微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
English Name：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-04-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.50
CCS Number：G04
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 18907,GB/T 20724,GB/T 40300
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：48 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43088
Drafter：孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲
Drafting Organization：首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
