General specification test methods for semiconductor device curve tracers
全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153)
本标准规定了半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等。
本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪，也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪。
图示仪的产品标准应满足本标准的要求，当图示仪的产品标准要求超出本标准要求时，应以产品标准为准。
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