Non-destructive testing—Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing—Part 4:Edge method
IDT EN 12543-4:1999
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。
X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。
边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。
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