Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
IDT ISO 29081:2010
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
本标准规定了在电子激发绝缘样品的俄歇电子能谱测量中，描述荷电控制方法所需的最少信息，该信息也一并报告在分析结果中。参见附录A提供的现有的AES分析前或分析期间荷电控制的有用方法。表A.1对各种方法和途径进行了总结，并依方法的简单性排列。表A.1中的一些方法对大多数仪器是可用的，一部分则需要特殊的硬件，还有部分可能涉及样品的重装或变动。
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