Vitreous and porcelain enamels—Low voltage test for detecting and locating defects
IDT ISO 8289:2000
中国轻工业联合会
本标准规定了两种低电压试验，适用于搪瓷瓷层和金属基板缺陷的检测。
方法A是一种基于电学或电声学的快速测试方法，可基本确定缺陷位置，适用于平面试样的检测；方法B是一种基于颜色效应的光学测试方法，可精确确定缺陷位置，适用于较复杂形状试样的检测。
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