Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits
IDT IEC 60747-10:1991
全国半导体器件标准化技术委员会
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。
本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。
本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：
——电特性测试方法；
——气候和机械试验；
——耐久性试验。
注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范
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