Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency
IDT IEC 60749-12:2002
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
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