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Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。
本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。
注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。
Basic information
Standard No：GB/T 17722-2026
Standard Name：微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
English Name：Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM
Standard Status：现行
Release Date：1999-04-11
Effective Date：2026-08-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：37.020
CCS Number：N33
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 27418,GB/T 27788
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-01-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：17722
Drafter：娄艳芝、柳得橹、王岩华、陈振宇、周剑雄
Drafting Organization：中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、中国科学院化学研究所、中国地质科学院矿产资源研究所
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
