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Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计。
Basic information
Standard No：GB/T 41033-2021
Standard Name：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
English Name：Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
Standard Status：现行
Release Date：2021-12-31
Effective Date：2022-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：49.035
CCS Number：V29
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 9178
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：37 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2021-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：41033
Drafter：刘智、葛梅、谢成民、王斌、于洪波、岳红菊、姚思远、李海松、耿增建、胡巧玉
Drafting Organization：中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
Management Organization：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
Proposing Department：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
