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Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料，对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。
Basic information
Standard No：GB/T 45769-2025
Standard Name：表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告
English Name：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Standard Status：现行
Release Date：2025-06-30
Effective Date：2026-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.40
CCS Number：G04
Related Standards
Referenced Standards：ISO 18115-1,ISO 18115-2
Adopted Standards：ISO 19668:2017
Adopted Standard Name：《表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：36 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-06-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：45769
Drafter：邱丽美、赵志娟、范燕、武春霞、侯俊先、王海、吴正龙、章小余、忻睦迪、刘芬
Drafting Organization：中石化石油化工科学研究院有限公司、中国科学院化学研究所、季华实验室、河北工程大学、中国计量科学研究院、北京师范大学
Management Organization：全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
Proposing Department：全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
