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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
Standard in brief
Scope of Application：
本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。
本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。
注1:本试验不适用于激光打标。
许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
Basic information
Standard No：GB/T 4937.9-2026
Standard Name：半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
English Name：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-02-27
Effective Date：2026-09-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Adopted Standards：IEC 60749-9:2017
Adopted Standard Name：《半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：12
Number of words：15 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-02-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：4937.9
Drafter：王琪、李博、高见头、张娜、马睿彤、席善斌、虞勇坚、尹丽晶、吕栋
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
