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Nanotechnology—Measurement of defect concentration of graphene—Raman spectroscopy method
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了利用拉曼光谱法测量石墨烯缺陷浓度的方法，包括原理、仪器参数要求、样品准备、试验步骤及数据分析与处理。本文件适用于横向尺寸不小于2 μm、物性均匀、表面洁净的单层石墨烯的点缺陷浓度测量。
Basic information
Standard No：GB/T 43341-2023
Standard Name：纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量 拉曼光谱法
English Name：Nanotechnology—Measurement of defect concentration of graphene—Raman spectroscopy method
Standard Status：现行
Release Date：2023-11-27
Effective Date：2024-06-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.50
CCS Number：G30
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 33252,JJF 1544
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：50 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2023-11-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43341
Drafter：倪振华、吕俊鹏、梁铮、章琦、吴忠帅、孙学栋、丁荣、南海燕、郭丁立、洪江彬、王英英、方崇卿、梁奇锋、梁贺君、袁文军
Drafting Organization：泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、中国科学院大连化学物理研究所、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、广东德瑞源新材料科技有限公司、泰州巨纳新能源有限公司、江南大学、哈尔滨工业大学(威海)、绍兴文理学院、上海海洋大学、上海巨纳科技有限公司
Management Organization：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
Proposing Department：中国科学院
