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Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。
Basic information
Standard No：GB/T 47239.8-2026
Standard Name：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法
English Name：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-02-27
Effective Date：2026-09-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.99
CCS Number：L55
Related Standards
Adopted Standards：IEC 62951-8:202
Adopted Standard Name：《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2026-02-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：47239.8
Drafter：沈磊、孙建军、俞剑、刘山佳、王明、时拓、崔波、陈海蓉、张丽静
Drafting Organization：上海复旦微电子集团股份有限公司、复旦大学、之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
