Chinese Standard: GB/T 15394-2026

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General specification for probe tester

Standard in brief
Scope of Application：  
本文件界定了多探针测试台(以下简称“探针台”)的术语和定义,规定了技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存等要求,描述了相应的试验方法。
本文件适用于手动、半自动、全自动多探针测试台的设计、生产、检验和验收。

Basic information
Standard No：GB/T 15394-2026
Standard Name：多探针测试台通用技术条件
English Name：General specification for probe tester
Standard Status：即将实施
Release Date：1994-12-28
Effective Date：2027-03-01
Language of Publication：中文简体

Standard Classification
ICS Number：31.260
CCS Number：L90;L94

Related Standards
Referenced Standards：GB/T 191,GB/T 3768,GB/T 5080.7,GB/T 5226.1,GB/T 6388,GB/T 6995.2,GB/T 13384-2008,GB/T 25915.1-2021

Publication Information
Number of pages：16
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-08-01

Standard Revision Information
Has Amendment：No

Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：15394
Drafter：段成龙、杨晓静、曹可慰、刘海滨、赵俊莎、吕磊、王伟、吴怡然、周豪、宋伟峰、华长春、王超、史泽远、邢莹、李扬、吴浩、张宝帅、宋子凯、王胜利、雷迪、吴贵阳、申世鹏
Drafting Organization：三河建华高科有限责任公司、中国电子科技集团公司第45研究所、中国电子技术标准化研究院、北京工业大学、燕山大学、昆山迈致治具科技有限公司、雯澜新(上海)半导体科技有限公司、矽电半导体设备(深圳)股份有限公司、多场低温科技(北京)有限公司
Management Organization：中华人民共和国工业和信息化部
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部