GB/T 48216.2-2026 is the Chinese version electronic standard. After you successfully purchase, we will send the electronic version of this standard to your email address. If you have any question, please contact email: ChineseStandardsLibraryS001@gmail.com.
Semiconductor devices—Generic qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification
Standard in brief
Scope of Application：
本文件基于产品的工作环境条件和预定用途,给出了制定可靠性鉴定中任务剖面的概念及计算方法的指南。
本文件适用于非军事和非航天航空的相关应用。
Basic information
Standard No：GB/T 48216.2-2026
Standard Name：半导体器件 通用鉴定指南 第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念
English Name：Semiconductor devices—Generic qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-09-28
Effective Date：2027-04-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.01
CCS Number：L40
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 48216.1-2026
Adopted Standards：IEC 63287-2:2023
Adopted Standard Name：《半导体器件 可靠性鉴定计划指南 第2部分:任务剖面的概念》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：48216.2
Drafter：刘士圆、尹坤、王忠新、钟鑫、吴海文、彭浩、王之哲、迟雷、尹丽晶、李振廷、刘曦、陈永强、魏育成、何志峰、崔风洲、韩买兴、郑飞君、乐卫平、张旭、聂灿勋、杨晓锋、李彦鹏、王维思、谢名富、徐祝青、李述洲、朱帅帅、袁芳、朱阳军、逄金波、曾国翔、侯小刚、张凡武、和巍巍、白忠杰、李刚、吴靖
Drafting Organization：之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、国家市场监督管理总局认证认可技术研究中心、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市恒运昌真空技术股份有限公司、威凯检测技术有限公司、中科亿海微电子科技(苏州)有限公司、柔检(嘉兴)科技有限公司、深圳市美信检测技术股份有限公司、杭州傲芯科技有限公司、中国科学院半导体研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京航芯微电子科技有限公司、福州派利德电子科技有限公司、重庆平伟实业股份有限公司、中汽院(江苏)汽车工程研究院有限公司、山东阅芯电子科技有限公司、济南大学、南京泛铨电子科技有限公司、甬江实验室微谱(浙江)技术服务有限公司、东风汽车集团股份有限公司、深圳基本半导体股份有限公司、上海贝岭股份有限公司、欣峰扬科技(苏州)有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
