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Discrete semiconductor devices—Part 4:Microwave diodes and transistors
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了微波二极管和晶体管的术语和定义、基本额定值和特性、测试方法及验证方法等产品特定要求。
本文件适用于以下各类微波二极管和晶体管:
———变容二极管(用于电调谐、变频器、谐波倍频器、移相器等);
———阶跃二极管(用于梳状谱发生器、倍频器等);
———混频二极管(用于混频器等);
———检波二极管(用于检波器等);
———体效应二极管(用于振荡器、放大器等);
———PIN二极管(用于开关、限幅器、移相器、衰减器等);
———噪声二极管(用于固态噪声源等);
———双极型晶体管(用于放大器、振荡器);
———场效应晶体管(用于放大器、振荡器)。
Basic information
Standard No：GB/T 4023.4-2026
Standard Name：半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管
English Name：Discrete semiconductor devices—Part 4:Microwave diodes and transistors
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-04-30
Effective Date：2026-11-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.10;31.080.30
CCS Number：L45
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 4587-2023,GB/T 17573-2026,IEC 60747-8:2000
Adopted Standards：IEC 60747-4:2017
Adopted Standard Name：《半导体器件 分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：124
Number of words：225 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-04-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：4023.4
Drafter：李虹、熊威、杨尔刚、施尚、陈九果、汤寅、韩东、景少红、王霄、张秋
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
