Chinese Standard: GB/T 42709.40-2026

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Semiconductor devices—Micro⁃electromechanical devices—Part 40:Test methods of MEMS inertial shock switch threshold

Standard in brief
Scope of Application：  
本文件描述了MEMS惯性冲击开关阈值的测试条件和测试方法。
本文件适用于常开型MEMS惯性冲击开关。

Basic information
Standard No：GB/T 42709.40-2026
Standard Name：半导体器件　微电子机械器件　第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法
English Name：Semiconductor devices—Micro⁃electromechanical devices—Part 40:Test methods of MEMS inertial shock switch threshold
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-07-30
Effective Date：2027-02-01
Language of Publication：中文简体

Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L55

Related Standards
Adopted Standards：IEC 62047-40:2021
Adopted Standard Name：《半导体器件　微电子机械器件　第40部分:MEMS惯性冲击开关阈值测试方法》
Adoption Level：IDT

Publication Information
Number of pages：16
Number of words：17 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2026-07-01

Standard Revision Information
Has Amendment：No

Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42709.40
Drafter：张威、白先民、张亚婷、冯艳露、赵晓东、杨明、刘若冰、熊志红
Drafting Organization：北京智芯传感科技有限公司、北京空间机电研究所、北京大学、安徽京芯传感科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳仕上电子科技股份有限公司
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)、全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部