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Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 6:Test method for sheet resistance of flexible conducting films
Standard in brief
Scope of Application：
本文件界定了弯曲试验条件下柔性导电薄膜薄层电阻测试的术语和定义,描述了测试方法。测试方法包括两探针法、四探针法和蒙哥马利法,这些方法能用于原位、异位测量以及各向异性薄层电阻的测量。
Basic information
Standard No：GB/T 47239.6-2026
Standard Name：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法
English Name：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 6:Test method for sheet resistance of flexible conducting films
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-08-28
Effective Date：2027-03-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.99
CCS Number：L40
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 2918-2018
Adopted Standards：IEC 62951-6:2019
Adopted Standard Name：《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：41 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2026-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：47239.6
Drafter：高杨、佘茜玮、赵先恒、薛爱杰、周廷宝、薛春宝、闫美存、何志峰、杨晓峰、牛皓、赵昊、黄良辉、刘腾蛟、宫立霞、王振、唐宗飘、周爱和、肖学才
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子技术标准化研究院、浙江清华柔性电子技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、广东南海启明光大科技有限公司、江苏纳美达光电科技有限公司、深圳意杰新技术有限公司、中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院、浙江骐盛电子有限公司、昆山一鼎工业科技有限公司、爱利彼半导体设备(上海)有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
