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Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 8:Proton,electron,pion,muon,alpha-ray fluxes and single event effects in avionics electronic equipment awareness guidelines
Standard in brief
Scope of Application：
本文件旨在提供关于小粒子(即质子、电子、π介子和μ子注量率)影响和单粒子效应对到18.3 km(60000英尺)高度范围内飞行的飞机上使用的航空电子设备的影响的认识和指导。这是一个新兴的研究方向,缺乏实质性的数据支持。本文件旨在帮助航空航天或地面电子设备设计者和制造商,为这一新兴的研究方向提供认识和指导。
本文件提供了辐射环境的详细信息,介绍了由于受到大气辐射而引起的潜在问题,并给出了电子器件中单粒子效应(SEE)率评估的推荐的定量方法。
注1:总体系统安全方法通常得到扩展,以适应单粒子效应概率,并证明电子产品是否适合在电子器件、电子设备和系统一级应用。
注2:本文件中“电子器件”和“电子元件”两个术语等同使用。
本文件适用于航空电子工业领域,其他工业领域参考使用。
Basic information
Standard No：GB/Z 41270.8-2026
Standard Name：航空电子过程管理 大气辐射影响 第8部分：对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ子、α射线注量率导致单粒子效应的考虑
English Name：Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 8:Proton,electron,pion,muon,alpha-ray fluxes and single event effects in avionics electronic equipment awareness guidelines
Standard Status：现行
Release Date：2026-09-24
Effective Date：1800-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：49.060
CCS Number：V04
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 34956-2017
Adopted Standards：IEC TR 62396-8:2020
Adopted Standard Name：《航空电子过程管理 大气辐射影响 第8部分:对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ子、α射线导致单粒子效应 认知指南》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：56
Number of words：98 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：41270.8
Drafter：宋杨、孟恩丞、周方元、熊威、李钧、梁天骄、莫莉华、任海涛
Drafting Organization：中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院、中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所、中国科学院高能物理研究所、中国航空综合技术研究所
Management Organization：全国航空电子过程管理标准化技术委员会(SAC/TC 427)
Proposing Department：全国航空电子过程管理标准化技术委员会(SAC/TC 427)
