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Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 2:Evaluation method for electron mobility,sub-threshold swing,and threshold voltage of flexible devices
Standard in brief
Scope of Application：
本文件界定了用于评价和确定柔性薄膜晶体管(TFT)器件性能特征的术语、定义和符号,描述了评价方法。本文件描述的评价方法和特征参数适用于准确评价柔性薄膜晶体管器件在实际弯曲状态下的性能和可靠性。
Basic information
Standard No：GB/T 47239.2-2026
Standard Name：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第2部分：柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压评价方法
English Name：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 2:Evaluation method for electron mobility,sub-threshold swing,and threshold voltage of flexible devices
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-08-28
Effective Date：2027-03-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.080.99
CCS Number：L40
Related Standards
Adopted Standards：IEC 62951-2:2019
Adopted Standard Name：《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第2部分:柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评价方法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：15 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：47239.2
Drafter：路国光、牛皓、杨晓锋、韦覃如、朱海斌、何志峰、彭光健、陈思、马丙戌、田万春、赵鹤然、高汭、范剑峰、王海建、倪毅强、石高明、孙虎、洪文晶、马少鹏、陈颖、朱明敏、周士潮、吴文平、戴彬、邢同振
Drafting Organization：工业和信息化部电子第五研究所、浙江清华柔性电子技术研究院、柔检(嘉兴)科技有限公司、厦门大学、中国电子科技集团公司第四十七研究所、浙江工业大学、上海交通大学、中国计量大学、浙江迈沐智能科技有限公司、厦门云天半导体科技有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
