Chinese Standard: GB/T 46567.2-2026

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Intelligent computing—Test method for memristor—Part 2:Linearity

Standard in brief
Scope of Application：  
本文件描述了忆阻器在连续施加电脉冲进行长时程增强或长时程抑制操作时，电导变化的线性度的测试方法。
本文件适用于两端型双极性忆阻器线性度的测试。

Basic information
Standard No：GB/T 46567.2-2026
Standard Name：智能计算　忆阻器测试方法　第2部分：线性度
English Name：Intelligent computing—Test method for memristor—Part 2:Linearity
Standard Status：即将实施
Release Date：2026-04-30
Effective Date：2026-11-01
Language of Publication：中文简体

Standard Classification
ICS Number：31.080.99
CCS Number：L40

Related Standards
Referenced Standards：GB/T 46567.1-2025

Publication Information
Number of pages：16
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-04-01

Standard Revision Information
Has Amendment：No

Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：46567.2
Drafter：王忠新、许晓欣、孙文绚、时拓、马小雯、陈鹏、王中强、王明、闫小兵、李清江、钟鑫、刘山佳、顾海林、董红梁、黄唯静、张九六、周兰、蒙贵云、张丽静、徐海阳、李莹、刘琦、王义楠、杨彪、张乾、王斌强、张明明、滕耘、杨明、冯杰、刘海连、周芃、刘洪杰
Drafting Organization：中国科学院微电子研究所、之江实验室、浙江大学、中国人民解放军国防科技大学、河北大学、东北师范大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国信息通信研究院、中移(杭州)信息技术有限公司、浪潮电子信息产业股份有限公司、天翼云科技有限公司、中移(苏州)软件技术有限公司、中国计量大学、深圳陆兮科技有限公司、深圳市九天睿芯科技有限公司、北京云之印科技有限公司
Management Organization：全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)、全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)