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Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2:Deterioration mechanisms
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式，以及评估一般退化机理的试验方法。通常本文件与IEC 624351一起使用，用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。特定类型电子元器件的退化机理在IEC 624355～IEC 624359中加以规定。
Basic information
Standard No：GB/T 42706.2-2023
Standard Name：电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理
English Name：Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2:Deterioration mechanisms
Standard Status：现行
Release Date：2023-05-23
Effective Date：2023-09-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.020
CCS Number：L40
Related Standards
Referenced Standards：IEC 60749-20-1
Adopted Standards：IEC 62435-2:2017
Adopted Standard Name：《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-05-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42706.2
Drafter：刘玮、石东升、晋李华、彭勇、闫萌、张鑫、彭浩、崔波、魏兵、赵鹏、麦日容、徐昕、米村艳、何黎、陈金星、吴卫斌
Drafting Organization：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
