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Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 43226-2023
Standard Name：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
English Name：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：49.140
CCS Number：V25
Related Standards
Referenced Standards：GB 18871-2002
Publication Information
Number of pages：12
Number of words：17 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43226
Drafter：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
Drafting Organization：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
Management Organization：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
Proposing Department：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
