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Polished mono-crystalline sapphire substrate wafer
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了蓝宝石单晶衬底抛光片（以下简称“蓝宝石衬底片”)的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件和订货单内容。
本文件适用于直径不大于200 mm的蓝宝石衬底片。产品主要用于外延生长半导体薄膜、生产蓝宝石图形化衬底、蓝宝石键合衬底等。
Basic information
Standard No：GB/T 30858-2025
Standard Name：蓝宝石单晶衬底抛光片
English Name：Polished mono-crystalline sapphire substrate wafer
Standard Status：现行
Release Date：2014-07-24
Effective Date：2026-05-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：29.045
CCS Number：H83
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 1031,GB/T 2828.1-2012,GB/T 6624,GB/T 13387,GB/T 14140,GB/T 14264,GB/T 19921,GB/T 25915.1-2021,GB/T 29505,GB/T 30857,GB/T 31092,GB/T 31352,GB/T 31353,GB/T 33236,GB/T 33763,GB/T 34210,GB/T 34612,YS/T 26
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：21 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：30858
Drafter：鲁雅荣、杨诗音、康森、李素青、郑东、杭寅、张能、陆椿、韩凤兰、李宁、武金龙、董福元、陈斌
Drafting Organization：天通银厦新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、青岛华芯晶电科技有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、广东中图半导体科技股份有限公司、徐州凯成科技有限公司、宁夏材料研究学会、北方民族大学、深圳中机新材料有限公司
Management Organization：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
Proposing Department：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
