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Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。
本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。
Basic information
Standard No：GB/T 42974-2023
Standard Name：半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
English Name：Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 191,GB/T 4937.3,GB/T 4937.4,GB/T 4937.11,GB/T 4937.13,GB/T 4937.14,GB/T 4937.15,GB/T 4937.21,GB/T 4937.23,GB/T 4937.26,GB/T 4937.27,GB/T 9178,GB/T 12750,GB/T 17574-1998,GB/T 35003,GB/T 36477-2018,IEC 60749-6,IEC 60749-8,IEC 60749-9,IEC 60749-24,IEC 60749-28,IEC 60749-36
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：33 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42974
Drafter：罗晓羽、何卫、辛钧、胡洪、苏志强、李东琦、韩旭、龙冬庆、张静、李柏泉、王如松、李敬、李海龙
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、兆易创新科技集团股份有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、存心科技(北京)有限公司、芯天下技术股份有限公司、三旗(惠州)电子科技有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
