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Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
Basic information
Standard No：GB/T 20724-2021
Standard Name：微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
English Name：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
Standard Status：现行
Release Date：2006-12-25
Effective Date：2022-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.99
CCS Number：N53
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 18907-2013,GB/T 27418-2017,ISO 15932:2013
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：40 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2021-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：20724
Drafter：柳得橹、娄艳芝
Drafting Organization：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
