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Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。
Basic information
Standard No：GB/T 43227-2023
Standard Name：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
English Name：Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：49.040
CCS Number：A29
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：21 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43227
Drafter：赵元富、姚全斌、林鹏荣、冯小成、荆林晓、李洪剑、付明洋、林建京、曹燕红、刘思嘉、刘征宇
Drafting Organization：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
Management Organization：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
Proposing Department：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
